磁性材料專用設(shè)備高溫高濕試驗(yàn)箱
磁性材料專用設(shè)備高溫高濕試驗(yàn)箱-環(huán)境試驗(yàn)的由來(lái)
□、環(huán)境對(duì)產(chǎn)品的影響是在本世紀(jì)30年代末、特別是在第二次世界大戰(zhàn)中才開始受到人們的重視。那時(shí)，在熱帶和亞熱帶地區(qū)使用的電子電王產(chǎn)品遇到了氣候劣比問題。尤其是在第二次世界大戰(zhàn)的戰(zhàn)場(chǎng)上，由于受各種惡劣的環(huán)境及條件的影響，產(chǎn)品出現(xiàn)了許多問題。據(jù)判時(shí)美國(guó)空軍調(diào)查和統(tǒng)計(jì)，產(chǎn)品的損壞有52%是由于環(huán)境惡劣所引起的。其中受溫度影響而損壞的占21%，受振動(dòng)影響而損壞的占14%，受潮ì影響而損壞的占10%，受砂塵鹽霧影響而損壞的占7%……環(huán)境影響使許多產(chǎn)品失靈，失放及誤動(dòng)作，從而賠誤了不少戰(zhàn)機(jī)，造成了很大的損失。這就不得不迫使各先進(jìn)的工業(yè)國(guó)家從一連串的戰(zhàn)爭(zhēng)損壞報(bào)告中開始著重解決電子電工產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)性問題。美國(guó)是開展環(huán)境試驗(yàn)較早的國(guó)家。這項(xiàng)工作是在國(guó)防部領(lǐng)導(dǎo)下進(jìn)行的，從研究熱帶防護(hù)開始。40年代，他們主要開展現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)和試驗(yàn)室的人工模擬試驗(yàn)，并進(jìn)行研究和制訂試驗(yàn)規(guī)范。50年代末，陸、梅、空三軍都有了各自的環(huán)境試驗(yàn)規(guī)幣和標(biāo)準(zhǔn)。 60年代，又聯(lián)合制訂出三軍的通用環(huán)境試驗(yàn)方法，即現(xiàn)在的MIL-STD-810D(下稱810D)，緊接著叉開始了對(duì)宇航環(huán)境的研究。這樣就形成了從元器件、微電路到設(shè)備，從空中、陸地到海洋的完整環(huán)境試驗(yàn)軍標(biāo)體系。從60年代到現(xiàn)在，美國(guó)的環(huán)境試驗(yàn)軍標(biāo)經(jīng)過(guò)多次修改和補(bǔ)充，己成為資本主義國(guó)家軍方的重要標(biāo)準(zhǔn)，并被不少國(guó)家接受和采用。
磁性材料專用設(shè)備高溫高濕試驗(yàn)箱均勻度保證的風(fēng)道系：
□、為了能夠更加好的保護(hù)好試驗(yàn)機(jī)加裝了特殊防潮兼散熱設(shè)計(jì),特別的加長(zhǎng)軸心循環(huán)馬達(dá)使用的是不銹
□、調(diào)溫調(diào)濕箱出風(fēng)口采用了最新的設(shè)計(jì)可以確保每個(gè)位置都有風(fēng)循環(huán)的到，均勻度非常高出采用的是風(fēng)口設(shè)計(jì)是正壓式的。
磁性材料專用設(shè)備高溫高濕試驗(yàn)箱曲線、數(shù)據(jù)的儲(chǔ)存及處理：
□、標(biāo)準(zhǔn)配置USB2.0接口，儲(chǔ)存讀取數(shù)據(jù)及下載曲線到電腦都很簡(jiǎn)單，可以隨時(shí)查看分析儲(chǔ)存。
□、采樣速率可以由3秒鐘到3600秒之間任意設(shè)定。
